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更新时间：2024-01-12 
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在半导体硅板的加工过程中，越来越多的制造厂商开始重视对其寿
命的测试，这个测试涉及对金属杂质含量及结晶瑕疵的判断和分析。
因此日本NAPSON公司结合SUGAWARA的闪频仪技术，研发设计
出针对硅板寿命测试的专用检测设备。
寿命测试是指用氙气闪光灯对硅板进行短暂照射增加正负极电子数
量，在硅体电子数量伴随使用时间减少后，通过照射增加到原来的
数量，恢复到初始状态。P型硅晶体通常会有大量正极电子，而N型
则是负极电子偏多，通过氙气闪光灯的短暂照射，可以使各自的电
子数量恢复到原始状态。
多功能分体式氙气闪频仪15W系列MS-230DA
| 型号 | MS-230DA |
|---|---|
| 频闪范围 | 60 – 26,500 r/min |
| 灯泡 | 15 W |
| 闪光持续时间 | ≤6 µs |
| 功能 | 内部触发,外接信号同步 |
| 电源 | AC100 V±10% |
| 尺寸 (W×H×D) | 270×170×190 mm |
| 重量 | 6.8 kg |
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